カラー光切断法 : （特許出願中）coming soon

光切断法による三次元形状とカラーテクスチャの取得

　

光切断法による三次元形状測定において、スリット光に白色LEDを用いる事で、三次元形状とカラーのテクスチャ情報を取得し、形状検査とテクスチャの検査が同時に可能となりました。さらにスリット光の中心位置抽出アルゴリズムを見直し、より高速、高分解能化を行っています。

アバールの提供する光切断法の特長

●三次元形状とカラーテクスチャ画像を同時取得！
●三次元形状の高分解能化
●１フレームにつき複数ライン測定データ出力による高速化

スリット光の中心座標抽出アルゴリズムを開発

　従来の光切断法では、スリット光の中心位置を求めるのに輝度値の最大値や重心、二次式近似によるピークの算出を行っていましたが、より反射などのノイズに強く、高精度に中心位置を求める手法を開発しました。
　さらに、従来では画像１フレームあたり１ライン分のプロファイルデータを算出するため、使用するカメラのフレームレートに依存した測定スピードとなりましたが、本手法では、画像１フレームあたり複数ライン（２、３ライン程度）のプロファイルデータを算出するため、カメラのフレームレート×数倍の測定スピードが実現可能となります。

スリット光による違い

　LEDのスリット光はレーザのスリット光に比べ、スペックルノイズが無く、乱反射も少ないため、より安定的な測定結果を得られます。また、白色LEDを用いる事で、測定物のカラーテクスチャも同時取得しています。
　テクスチャ画像はスリット光画像から生成しているため、三次元形状と位置が完全に一致したテクスチャ画像を取得します。

測定例

　　

装置構成例

用途

　鉄板や樹脂板、布、紙などのシートの打痕、キズ、シワ、平面度、汚れ検査、食品や薬品、木材などの形状、体積、割れ、欠け、色検査など

光切断に関する問い合わせ先

株式会社アバールデータ：営業部
TEL:042-732-1030 Emai : sales@avaldata.co.jp

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