出展展示会の招待券申込み

OPIE'18:赤外・紫外応用技術展

終了しました。多数のご来場ありがとうございました。

 会  期 / 2018年4月25日[水]~27日[金]
 会  場 / パシフィコ横浜 展示ホールA/B O-3
公式サイト /  http://www.opie.jp/

展示概要

InGaAsセンサーを採用した近赤外線カメラと画像取込ボード等、アバールデータの技術を組み合わせた新しい検査方法をご提案します。

主な出展内容

◎非破壊撮影による対象物の分光分析を可能 ハイパースペクトル用分光カメラ
◎近赤外線カメラとGPU画処理ボードによるディープラーニング
  
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